貼片電容為什么要進行知識老化問題處理？貼片電容的容量隨時間以對數規律可以降低（之稱之為老化）。村田代理一種電容材質。貼片電容全稱為：多層（積層，疊層）片式陶瓷電容器，也稱為貼片電容，片容。貼片電容有兩種表示方法，一種是英寸單位來表示，一種是毫米單位來表示。然而，如果沒有貼片電容發熱溫度明顯高于其介質的居里點時，此時學生產生“去老化”現象，即不同老化過程中發生的容量達到降低公司重新開始恢復，當電容恢復冷卻時，老化又隨時間發展產生。

貼片電容的老化條件：在上限等級溫度或在詳細規范中規定的更高溫度（150 ℃）下1小時后，貼片電容在試驗的標準大氣條件下恢復24 ± 1小時。

隨著時間的推移，各種材料的衰減系數如下圖所示:

貼片電容測試條件：

項目

Item

技術規格

Technical Specification

測試方法

Test Method Remarks

容量

Capacitance

Ⅰ類 ClassⅠ

(COG/NPO)

應符合指定的誤差級別

Shall be within the prescribed limits

標稱容量

Capacitance

測試頻率

Measuring Frequency

測試電壓

Measuring Voltage

≤1000PF

1MHz±10%

1.0V±0.2V

1000PF

1KHz±10%

1.0V±0.2V

Ⅱ類 Class Ⅱ

應符合指定的誤差級別

Shall be within the prescribed limits

C ≤10UF 測試頻率: 1khz ± 10% 1.0 v ± 0.2 v

Test frequency: 1khz 10% Test voltage: 1.0V±0.2V

C10uF

X7R X5R Y5V 測試工作頻率：120Hz±24Hz 0.5V±0.05V

Test frequency: 120hz ± 24Hz Test voltage: 0.5v ± 0.05V

溫度和濕度: 25 ± 5 ° c 50% -70%

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